ICソケット検査裝置
[ 形式:QA-100型 ]
測定システムの概要
畫像処理技術を利用した外観検査の自動検査裝置です。
高速処理が可能で,ライン內における工程検査として利用できます。
目視検査の省人化が計れます。
概略仕様
1)AC100V 10A以下
2)検査時間 2.5秒/1ケ…判定出力迄
3)分解能 512×480畫素
4)ICカードにより多品種対応が可能です。
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